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介質損耗(介電常數)測試系統

簡要描述:高頻介質損耗(介電常數)測試系統依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的*佳解決方案。

  • 產品型號:HJS-I
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-06-04
  • 訪  問  量: 2400

詳細介紹

介質損耗(介電常數)測試系統方案

高頻介質損耗(介電常數)測試系統HJS-I型高頻Q表、AS916測試裝置(夾具)、數據采集和tanδ自動測量控件(裝入HJS-I型高頻Q表軟件模塊)、及HLKI-1型電感器組, 液體杯(可選,用于測試液態材料)組成。

高頻測試系統依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的z佳解決方案。

配置方案及報價如下表:

主機

HJS-I高頻Q表

測試裝置

AS916

HLKI-1型電感器組



                                     

1         HJS-A+AS916+HLKI-1電感組特點:

測試頻率范圍

10KHz-70MHz, LCD顯示,6位有效數 ,DDS數字合成

Q值測量范圍

1~1000四位數顯,±0.1Q分辨率

可調電容范圍

28490pF 0.1pF分辨率

電容測量誤差

±0.5%±0.5pF

Q表殘余電感值

約20nH

S916測試裝置

屏幕5位數顯,極片為φ38和φ50二選一,支持液體杯測試, 液體杯測試極片為φ38

數據采集和tanδ自動測量控件

支持

技術參數

(1)Q值測量

a.Q值測量范圍:2~1023。

b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。

c.標稱誤差

頻率范圍         10kHz~10MHz;

固有誤差        ≤5%±滿度值的2%;

工作誤差        ≤7%±滿度值的2%;

頻率范圍          10MHz~70MHz;

固有誤差         ≤6%±滿度值的2%;

工作誤差        ≤8%±滿度值的2%。

(2)電感測量范圍:14.5nH~8.14H

(3)電容測量:1~ 460

項    目

直接測量范圍                     1~460pF

主電容調節范圍                 30~500pF

準 確 度              150pF以下±1pF;

150pF以上±1%

(4)信號源頻率覆蓋范圍

項     目

頻率范圍                  10kHz~70MHz

頻率分段(虛擬)          10~99.9999kHz

100~999.999kHz

1~9.99999MHz

10~70MHz

頻率指示誤差              3×10-5±1個字

(5)Q合格指示預置功能

預置范圍:5~1000。

(6)Q表正常工作條件

a.  環境溫度:0℃~+40℃;

b.相對濕度:<80%;

c.電源:220V±22V, 50Hz±2.5Hz。

4、設備配置:

a.測試主機一臺;

b.電感9只;

c.夾具一套


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